为什么低噪声对于电子设备的I-V测量很重要

    2017年8月29日，由凯文Carmichael在电子设备和半导体测量发表评论，仪器性能对于确保电子材料和器件的准确表征至关重要;然而，电测量设备的性能差别很大。一个经常被忽视的变量是一个乐器引入的噪音量。 给测量增加噪音有两个明显的影响： 需要更多的数据，增加的噪音意味着需要大量的数据收集来确定平均响应。 偏差误差，由于噪声尖峰在方向上都是正向的，所以平均响应可能会因引入附加能量而产生偏差误差。 I-V特性的比较考虑二极管的典型电流 - 电压（I-V）测量。在正向偏置条件下，电流开始非常缓慢地增加，直到偏置电压接近“正向电压”。

    此时，电流以非线性方式显着增加。 为了表征二极管的正向电压，通常使用电流源和电压表来绘制I-V曲线。因此，当接近正向电压时，正噪声尖峰可能会过早地将二极管推入其“导通”区域，导致I-V曲线的小损坏。 选择经证明噪音低的仪器可以帮助减少这种错误，并在进行测量时节省时间。企业即将发布的MeasureReady?155精密I / V电源就是一个例子。 为了避免更多的测量错误，请联系大家的工程师

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